Fotogalerie: Scott Genius LT 700

Podrobné fotopředstavení, které jsme pořídíli společně s testem tohoto švýcarského biku...

Autor: Petr Bureš
Fotogalerie: Scott Genius LT 700

Test tohoto kola si můžete přečíst zde: TEST: Scott Genius LT 700.

Foto: Petr Bureš & Michal Červený

Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned
Scott Genius LT 700 Tuned

Přečteno - 1952x Tagy: testy karbon scott 27.5
Zapojte se do diskuze

Mohlo by vás zajímat

  1. DoplňkyBontrager rozšiřuje celoživotní záruku na karbonové výplety
    Bontrager rozšiřuje celoživotní záruku na karbonové výplety
  2. TechnikaFotogalerie: Mondraker F-Podium DC R
    Fotogalerie: Mondraker F-Podium DC R
  3. TechnikaFotovideo: Kellys Theos i90
    Fotovideo: Kellys Theos i90
  4. Testy - RecenzeTEST: Mondraker F-Podium DC R
    TEST: Mondraker F-Podium DC R
  5. Testy - RecenzeTEST: Kellys Theos i90
    TEST: Kellys Theos i90
  6. Tech newsSanta Cruz Heckler - další mýtus padá
    Santa Cruz Heckler - další mýtus padá

Vlož svůj komentář:

Pro vkládání komentářů je nutné být přihlášený.
Proto se, prosím, tedy buď přihlašte nebo registrujte.

redakční systém | ISSN 1803-5744